- Raster-Kelvinsonde
- Atom-Absorptions-Spektrometer (AAS)
- Gaschromatographen
- Hochdruckflüssigchromatographen
- Ionenchromatographen
- Kontaktwinkelmessgerät
- Rasterelektronenmikroskopie/EDX und Rasterkraftmikroskopie
- Optische Emissionsspektrometrie
- Oberflächenprofilometrie
- 3D-Laserscanning- und Lichtmikroskopie
- Rheologie
- Thermographie
- Schichtdickenbestimmung
- Scanning Vibrating Electrode Technique (SVET)